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SN74LVC1G16DBVR

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¥ 0.826369

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10+

¥ 0.570195

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Texas Instruments

品牌:

Texas Instruments

型号:

SN74LVC1G16DBVR

编号:

L63776199

包装:

-

批号:

-

封装:

SC-74A,SOT-753

描述:

ONE-CHANNEL 1.65V-TO-5.5V INVERT

  • 产品参数

详细描述:缓冲器,反向 1 元件 1 位每元件 开路漏极 Output SOT-23-5


产品参数

产品属性 属性值
供应商器件封装 SOT-23-5
元件数 1
制造商 Texas Instruments
包装 卷带(TR),剪切带(CT),Digi-Reel® 得捷定制卷带
安装类型 表面贴装型
封装、外壳 SC-74A,SOT-753
工作温度 -40°C ~ 125°C(TA)
每个元件位数 1
电压 - 供电 1.65V ~ 5.5V
电流 - 输出高、低 32mA,32mA
等级 -
系列 74LVC
资质 -
输入类型 -
输出类型 开路漏极
逻辑类型 缓冲器,反向
零件状态 在售

产品概述

SN74LVC1G16DBVR 单通道施密特触发反向器产品概述

一、产品核心定位

SN74LVC1G16DBVR是德州仪器(TI)74LVC系列中的单通道逻辑反向器,集成施密特触发器输入与开漏输出结构,专为宽电压兼容、低功耗、抗噪声干扰及高速信号处理场景设计。作为精简版单通道器件,它兼顾小型化封装与工业级可靠性,可覆盖便携设备、工业控制、汽车电子等多领域需求。

二、关键特性解析

1. 施密特触发器输入

输入采用施密特触发机制,具备滞后阈值特性(上升沿触发阈值高于下降沿),能有效抑制输入信号中的电磁干扰(EMI)、噪声波动及缓慢变化的模拟信号,即使在低信噪比环境下也可输出稳定逻辑电平,避免误触发。

2. 开漏输出设计

输出为开漏结构,需外接上拉电阻至目标电压(可与工作电压不同),支持跨电压域电平转换(如1.65V输入转3.3V/5V输出);最大灌电流(IOL)与拉电流(IOH)均达24mA(@5V),可驱动中等负载(如LED、小型继电器线圈),同时通过外部上拉电阻灵活适配不同系统电压。

3. 宽工作电压范围

供电电压覆盖1.65V~5.5V,兼容低功耗便携设备(智能穿戴、无线传感器)的1.8V/2.5V电源,也适配传统5V逻辑系统,无需额外电平转换电路即可实现跨电压域信号交互。

4. 低静态功耗

典型静态电流(Iq)仅10μA,待机或低负载状态下功耗极低,适合电池供电的便携式产品,可显著延长设备续航时间。

5. 高速传播延迟

5V供电下,负载电容50pF时传播延迟(tpd)仅6ns,满足高速数字系统的信号时序要求,可用于高频时钟整形、高速逻辑门扩展等场景。

6. 宽温环境适应性

工作温度范围为**-40℃~+125℃**,符合工业级环境要求,可在极端温度下稳定工作,适用于户外设备、工业自动化控制器等 harsh 环境。

三、封装与引脚配置

SN74LVC1G16DBVR采用SOT-23-5(DBV封装),尺寸紧凑(典型引脚间距0.95mm),适合高密度PCB布局。引脚定义如下(从标记点顺时针编号):

  • 引脚1:A(施密特触发器输入)
  • 引脚2:Y(开漏输出)
  • 引脚3:GND(地)
  • 引脚4:VCC(电源)
  • 引脚5:NC(无连接,需悬空处理)

封装无铅化设计,符合RoHS与REACH环保标准,可直接用于环保要求严格的产品。

四、典型应用场景

1. 噪声环境下的信号整形

施密特输入可对受干扰的信号(如传感器输出、长线传输信号)进行整形,输出稳定逻辑电平,避免误判,常用于工业传感器接口、通信线路信号处理。

2. 跨电压域电平转换

开漏输出通过外接上拉电阻,可实现不同电压域的信号转换(如1.8V MCU输出转3.3V外设输入),无需专用电平转换芯片,简化系统设计。

3. 低功耗便携设备

10μA静态电流与宽电压兼容特性,适合智能手环、蓝牙模块、无线传感器等电池供电设备,降低待机功耗,提升续航。

4. 工业控制与汽车电子

-40℃~+125℃宽温范围与抗干扰能力,可用于工业PLC输入输出接口、汽车仪表盘信号处理等 harsh 环境应用。

5. 高速逻辑扩展

6ns传播延迟可满足高频时钟信号的反向、整形需求,适用于高速数字电路的逻辑门扩展(如增加反向逻辑分支)。

五、总结

SN74LVC1G16DBVR以小型化封装、宽电压兼容、低功耗、抗噪声为核心优势,集成施密特输入与开漏输出,兼顾高速性能与工业级可靠性。它可灵活适配多种应用场景,是便携设备、工业控制、汽车电子等领域中信号整形、电平转换的理想选择,同时符合环保与可靠性标准,降低系统设计复杂程度与成本。

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